wszystkie artykuły

DFA100 – Analizator Pian

Automatyczny aparat do pomiaru zdolności pienienia się cieczy oraz stabilności pian.

Piany odgrywają znaczącą rolę w wielu produktach i procesach – zarówno jako efekt pożądany, jak i uboczny. W obu przypadkach proponujemy Państwu bardzo pomocny aparat Dynamic Foam Analyzer DFA100. Pozwala on na wyznaczenie opatentowanych parametrów określających kinetykę zaniku piany oraz tradycyjnych parametrów dotyczących formacji, stabilności i rozkładu piany.

Wraz z aparatem dostarczane jest oprogramowanie do sterowania pomiarem oraz analizy wyników:

•  Analiza pomiaru w czasie rzeczywistym
• Pomiar w zależności od czasu generacji lub wysokości piany
• Równoległy pomiar na kilku kolumnach
• Zarządzanie projektami
• Możliwość porównywania wyników pomiarów

Możliwość późniejszej analizy zapisanych wyników.

Zanik piany podzielony został na trzy etapy zobrazowane poniższym rysunkiem:

Podczas pomiaru analizowane jest tworzenie piany oraz jej zanik. Krzywe obu procesów opisane są modelami matematycznymi.

Kinetykę zaniku piany opisują opatentowane parametry t_dev oraz t_tr, opracowane przez Max Planck Institute for Colloids and Interfaces.

Poza t_dev oraz t_tr, oprogramiwanie pozwala na analizę innych parametrów:

• Nowe, opatentowane t_dev oraz t_tr
• Czas zaniku w zależności od wysokości piany zgodnie z Ross-Miles
• Wartość połowicznego zaniku
• Czas zaniku dla 10, 20 i 30 mm (metoda NIBEM)
• Indeks Bikermana
• Objętość, wydajność i gęstość piany.  
  
  
  
  

Akcesoria

• Baza do szybkiego montażu szklanej kolumny oraz podłączenia gazu
• Baza do szybkiego montażu szklanej kolumny i mieszadła do wytwarzania  piany (max. prędkość miksowania: 8000 rpm)
• Szklane kolumny o różnej średnicy (np. do pomiaru bardzo niestabilnych pian)
• Termostatowana kolumna
• Zewnętrzny czujnik temperatury do pomiaru temperatury próbki
•  Filtry o różnej porowatości

W przypadku zainteresowania proponujemy Państwu możliwość bezpłatnego przetestowania kilku próbek a następnie sporządzenia raportu z testów.

Dane techniczne